射频测试¶
1 功能概述¶
本文主要介绍 PAN271x RF测试固件的使用。
2 环境要求¶
PAN271x EVB 若干块
USB转串口工具若干块
硬件接线:
使用杜邦线连接 EVB 和 USB 转串口工具:
UART1_Rx (P00) 与 USB 转串口工具 TX 连接
UART1_Tx (P01) 与 USB 转串口工具 RX 连接
Panchip ToolBox 下载
USB TYPE-C 线
3 RF测试固件说明¶
NO  | 
固件说明  | 
下载链接  | 
更新日期  | 
|---|---|---|---|
1  | 
RF性能测试(发射功率、频偏、EVM、对测收包率等)  | 
2025-10-16  | 
4 演示说明¶
PAN271x EVB 板 PIN 脚接线说明:
PAN271x EVB 板 GPIO  | 
USB转串口工具  | 
|---|---|
UART1_Rx (P00)  | 
UART_TX  | 
UART1_Tx (P01)  | 
UART_RX  | 
VBAT (VDD)  | 
VCC(3.3V)  | 
GND  | 
GND  | 
RF 性能测试需通过 PAN271x Toolbox 工具箱工具进行测试:
用 PANLink 或者 JLink 烧录固件 “PAN271x RF测试固件”。
PAN271x RF 测试固件可从前面列出的 WiKi 链接下载,也可直接从 PAN271x DK 开发套件中找到(位于:
<PAN271x-DK>/04_TOOLS/RF测试固件)。测试流程可参考 Panchip Toolbox 工具箱 文档第一章 RF 测试说明。
UART 通信波特率: 115200
典型的测试场景
TX 测试,可以通过软件发送单载波和dtm数据包(下图是一个单载波的典型配置界面),通过频谱仪观察射频状况
图-1 单载波配置界面¶
RX 测试可以打开2个软件,控制2个 PAN271x 芯片,一个设置为tx模式,一个设置为rx模式,tx 端设置 tx counts 发送, rx 端打印收到的 counts,进而判断 rx 的 质量和灵敏度。