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gpio_input例程

1 功能概述

本代码示例主要演示P0端口(P0.4)和P1端口(P1.0、P1.1、P1.2、P1.3、P1.4、P1.5、P1.6、P1.7)的输入功能

备注:

P1.7默认为复位引脚,若要当GPIO使用,需要先将其配置为普通GPIO;

bclr PADNRSTEN, 0

2 环境要求

  • Board: PAN221x_EVB

  • 逻辑分析仪

  • PANCHIP RISC IDE

3 编译和烧录

例程位置:`PAN221x_DK_Public\01_SDK\basic_demo\gpio

打开gpio目录下gpio_input.sproj工程,编译整个代码工程。

4 测试方法(以P1.0测试为例)

1、设置系统时钟源为dpll,并配置系统时钟为8Mhz;

2、将P0.4和P1.1设置为输出模式,用于调试;

3、P0.4外接上拉电阻,并和P1.0连接,同时通过杜邦线连接P1.0、P1.1到逻辑分析仪;

4、然后P0.4输出高电平,判断P1.0是否是高电平,如果P1.0为高电平,将P1.1拉高在拉低;

5、然后P0.4输出低电平,判断P1.0是否是低电平,如果P1.0为低电平,将P1.1拉高在拉低;

6、其它io也采用上述测试方法;

5 测试现象

1、P1.0输入测试,其中P0.4和P1.1为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.0输入测试

2、P1.1输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.1输入测试

3、P1.2输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.2输入测试

4、P1.3输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.3输入测试

5、P1.4输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.4输入测试

6、P1.5输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.5输入测试

7、P1.6输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.6输入测试

8、P1.7输入测试,其中P0.4和P1.0为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P1.7输入测试

9、P0.4输入测试,其中P1.0和P1.1为辅助测试io,测试结果如下图所示:

image

P0.4输入测试

6 Rom/Ram资源使用情况

rom 88 bytes, ram 0 bytes