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GPIO¶

1 功能概述¶

本例程演示演示 GPIO Driver 的基本功能与使用方法。

2 环境准备¶

硬件设备与线材：
- PAN271x EVB 核心板与底板各一块
- JLink 仿真器（用于烧录例程程序）
- USB-TypeC 线一条（用于底板供电和查看串口打印 Log）
- 杜邦线数根或跳线帽数个（用于连接各个硬件设备）
硬件接线：
- 将 EVB 核心板插到底板上
- 使用 USB-TypeC 线，将 PC USB 插口与 EVB 底板 USB->UART 插口相连
- 使用杜邦线或跳线帽将 EVB 底板 J8 排针对 (P06 & TXD) 和 J9 排针对 (P05 & RXD) 分别短接起来
- 使用杜邦线将 JLink 仿真器的：
  - SWD_CLK 引脚与 EVB 底板的 P00 排针相连
  - SWD_DAT 引脚与 EVB 底板的 P01 排针相连
  - SWD_GND 引脚与 EVB 底板的 GND 排针相连
- 使用杜邦线将验证IO P02连接P12，P17连接P20
PC 软件:
- 串口调试助手（UartAssist）或终端工具（SecureCRT），波特率 115200（用于串口交互）

3 编译和烧录¶

例程位置：<PAN271x-DK>\01_SDK\samples\drivers\gpio

双击 Keil Project 文件打开工程进行编译烧录。

4 例程演示说明¶

烧录完成后，芯片会通过串口打印初始化 Log：

CPU @ 48000000Hz
+------------------------------------------------------------------------------+
|                      PAN271X GPIO Sample Code.                               |
+------------------------------------------------------------------------------+
|    Press key to start specific testcase:                                     |
|    Input '1'    Testcase 1: Push-pull Mode Test.                             |
|    Input '2'    Testcase 2: Open-drain Mode Test.                            |
|    Input '3'    Testcase 3: Quasi-bidirectional Mode Test.                   |
|    Input '4'    Testcase 4: Debounce Test.                                   |
|    Input '5'    Testcase 5: Interrupt Test.                                  |
+------------------------------------------------------------------------------+
|    Board Pin Connection Scheme:                                              |
|      [Group1]                [Group2]                                        |
|      P02       <---->        P12                                             |
|      P17       <---->        P20                                             |
+------------------------------------------------------------------------------+

串口输入字符‘1’，Gpio Push-Pull功能，每组IO先设输出后输入，确保每个IO功能正常，输出结果。

GPIO Test OK, Success case: 0, Success Pin: P02
GPIO Test OK, Success case: 0, Success Pin: P12
GPIO Test OK, Success case: 0, Success Pin: P17
GPIO Test OK, Success case: 0, Success Pin: P20

串口输入字符‘2’，Gpio Open-Drain功能，每组IO先设输出后输入，确保每个IO功能正常，输出结果（同第二点）。
串口输入字符‘3’，Gpio Quasi-Bidirectional功能，每组IO先设输出后输入，确保每个IO功能正常，输出结果（同第二点）。
串口输入字符‘4’，Gpio Debounce功能，Gpio设置上升沿中断，debouce时间为64个HCLK，软件模拟抖动波形，中断触发条件为电平从低至高并维持高128个HCLK（稳定触发），从低至高并维持高64~128 HCLK区间有可能触发中断，也有可能不触发，这取决于边沿变化与Debouce Sample CLK的相位，Debouce Sample CLK刚过发生边沿变化，那么判定高需要约2个Debouce Sample CLK，边沿变化后Debouce Sample CLK 马上采集，那么判定高只需要约1个Debouce Sample CLK。
```
Debounce Period - 64 Cycles HCLK
P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_RISING.
Debounce Period - 128 Cycles HCLK
GPIO Test OK, Success case: 3, Success Pin: P02
...
```

串口输入字符‘5’，Gpio Interrupt功能，软件模拟电平变化，IO的所有中断类型均能正常触发。

P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_RISING.
P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_FALLING.
P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_BOTH_EDGE.
P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_BOTH_EDGE.
P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_HIGH.
P0_2 INT occurred, type: GPIO_INT_LOW.
GPIO Test OK, Success case: 4, Success Pin: P02
...

5 RAM/Otp资源使用情况¶

Otp Size: 6.71kB
RAM Size: 0.77kB