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CLKTRIM¶

1 功能概述¶

本例程演示演示 ClkTrim Driver 的基本功能与使用方法。

2 环境准备¶

硬件设备与线材：
- PAN271x EVB 核心板与底板各一块
- JLink 仿真器（用于烧录例程程序）
- USB-TypeC 线一条（用于底板供电和查看串口打印 Log）
- 杜邦线数根或跳线帽数个（用于连接各个硬件设备）
硬件接线：
- 将 EVB 核心板插到底板上
- 连接串口转USB调试模块：
  - 使用 USB-TypeC 线，将 PC USB 插口与 EVB 底板 USB->UART 插口相连
  - 使用杜邦线或跳线帽将 EVB 底板 J8 排针对 (P06 & TXD) 和 J9 排针对 (P05 & RXD) 分别短接起来
- 连接 Jlink，使用杜邦线将 JLink 仿真器的：
  - SWD_CLK 引脚与 EVB 底板的 P00 排针相连
  - SWD_DAT 引脚与 EVB 底板的 P01 排针相连
  - SWD_GND 引脚与 EVB 底板的 GND 排针相连

3 编译和烧录¶

例程位置：<PAN271x-DK>\01_SDK\samples\drivers\clktrim

双击 Keil Project 文件打开工程进行编译烧录。

4 例程演示说明¶

烧录完成后，芯片会通过串口打印初始化 Log：

CPU @ 48000000Hz
+----------------------------------------------------------------------------------+
|                      PAN271 Clk source to be tested.                             |
+----------------------------------------------------------------------------------+
|    Press key to select clk source to be tested:                                  |
|    Input '0'    Clk source select internal clk.                                  |
|    Input '1'    Clk source select external clk.                                  |
+----------------------------------------------------------------------------------|

串口输入字符‘0/1’，选择待测量时钟为内部RCL或者外部时钟源，此处外部时钟为PWM 100K Hz，输入PIN为P20。

+------------------------------------------------------------------------------------+
|                      PAN271 Clk measure sample number select.                      |
+------------------------------------------------------------------------------------+
|    Press key to select sample number:                                              |
|    Input '0'    Sample number select 1.                                            |
|    Input '1'    Sample number select 2.                                            |
|    Input '2'    Sample number select 4.                                            |
|    Input '3'    Sample number select 8.                                            |
|    Input '4'    Sample number select 16.                                           |
|    Input '5'    Sample number select 32.                                           |
|    Input '6'    Sample number select 64.                                           |
|    Input '7'    Sample number select 128.                                          |
+------------------------------------------------------------------------------------+

串口输入字符‘0~7’，选择采样次数，最终测量的cnt值为采样次数的cnt平均值，这里输入1。

+------------------------------------------------------------------------------------+
|                      PAN271 Clk measure edge mode select.                          |
+------------------------------------------------------------------------------------+
|    Press key to select edge mode:                                                  |
|    Input '0'    Edge mode select rising.                                           |
|    Input '1'    Edge mode select failing.                                          |
|    Input '2'    Edge mode select high voltage(only one time sample).               |
|    Input '3'    Edge mode select low voltage(only one time sample).                |
+------------------------------------------------------------------------------------+

串口输入字符‘0~3’，选择开始采样触发沿，此处注意高电平与低电平模式仅采样一次，高电平模式先上升沿后下降沿表示有效开始采样，低电平模式先下降沿后上升沿表示有效开始采样，此处以下降沿为例（输入0）。
```
内部RCL：
measure done
measure clk is 32M clk, real freq is :33143.45
外部PWM
measure done
measure clk is 32M clk, real freq is :100000.00
```

5 RAM/Otp资源使用情况¶

Otp Size: 8.57kB
RAM Size: 0.52kB